Microscopía Electrónica SEM


La magnifica capacidad de resolución de la Microscopía Electrónica de Barrido, ofrece un variado rango de informaciones procedentes de la superficie de la muestra, de gran utilidad en estudios forenses, biodeterioro de obras de arte, irregularidades de piezas, texturas de minerales, identificación de sustancias y un largo etcétera.

Izasa Scientific le ofrece soluciones integrales en Microscopía Electrónica.
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Emisión de Campo

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JSM-7610F

Microscopio electrónico de barrido emisión de campo tipo schottky con lente objetivo cónica de baja aberración semi in lens.

Con el JSM-7610F, se puede observar fácilmente imágenes de alta resolución, incluso usuarios noveles, gracias a su cañón Schottky de emisión de campo (T-FEG) y la nueva interfaz de usuario. En particular, el sistema óptico equipado con un cañón FEG tipo schotkky puede producir un haz de electrones altamente enfocado incluso con una corriente de alta iluminación.


En el modo de observación de baja tensión convencional (modo GB), se pueden observar aislantes como la cerámica y muestras no conductoras como semiconductores. Con el detector opcional de electrones de retrodispersados de bajo ángulo, se puede observar la información en las proximidades de la superficie sin carga.

El microscopio incluye como estándar un detector en columna y un filtro de energía que permite seleccionar el tipo de señal para realizar imagen con este detector, además, el microscopio tiene una nueva característica que permite, simultáneamente, la observación en tiempo real de imágenes de hasta cuatro detectores. Como resultado, siempre se puede encontrar fácilmente la señal de imagen que se adapte a sus necesidades.

  • Muy resistente a las vibraciones del suelo y el ruido acústico, por lo que es muy adecuado para instalaciones en lugares comprometidos por estas circunstancias.
  • Su nueva interfaz de usuario ha sido diseñada para facilitar su manejo a aquellos usuarios sin experiencia en FE-SEM.
  • Modo económico (programación de estado inactivo) que permite ahorrar entre un 25% y un 55% de energía.
  • Alta calidad de imagen.
  • Resolución 1.0 nm a 15 kV; 1.3nm a 1kV
  • Corriente de soda 200nm a 15 kV.
  • Sistema de desaceleración del haz.
  • Detector en columna con filtro de energía.
  • Instrumento superior para los campos de la nanotecnología, ciencia de materiales y biología.

 

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JEOL_JSM-7200F_IzasaScientific

JSM-7200 F

El primer microscopio electrónico de barrido emisión de campo versátil y compacto.

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo fácil de usar, altamente versátil y con una óptica de alta potencia.
Permite la observación y el análisis a bajo kilovoltaje de aceleración, toma de imágenes a alta resolución y la observación simultánea de diferentes señales (Sistema TTLS), el modo de bajo vacío permite la observación hasta a 300Pa (sistema LV), y la observación y análisis con una amplio campo de visión (sistema LDF), puede satisfacer las necesidades individuales de cada usuario.
Ideal para aplicaciones analíticas gracias a que es capaz de llegar hasta a 300nA de corriente de sonda.
La nueva lente híbrida no introduce campos magnéticos en la zona de la muestra lo que lo convierte en el equipo ideal para la formación de imágenes de alta resolución de materiales magnéticos y análisis EBSD.
Este es un sistema de SEM que permite realizar una amplia variedad de análisis y observaciones morfología para todo tipo de materiales. La opción TTLS (detectores en columna) se puede instalar para obtener aún más información. Permite obtener imágenes de características superficiales de una muestra a bajas energías de aceleración, en el rango de menos de 1 eV.
 

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JSM-7800F

Microscopio electrónico de barrido con emisión de campo de ultra-alta resolución.

Equipado con un cañón de electrones cónico de alto brillo y una lente objetivo de baja aberración.

Este modelo le ofrece la más alta resolución al menor voltaje de todos los SEM del mercado, alcanzando una resolución de 0.8 nm a 15 kV y 1.2 a 1kV. La mejora de la estabilidad global del modelo JSM-7800F le permite observar 4 señales al mismo tiempo con una gran capacidad analítica.

La super lente híbrida (SHL) recientemente desarrollada se utiliza para conseguir la más alta resolución en SEM. La adopción del tipo cañón de electrones Schottky ofrece análisis estable con una alta corriente de la sonda. La reducción de las aberraciones cromáticas y esféricas mejora la resolución, especialmente a bajas tensiones de aceleración. La lente no introduce campos magnéticos en la zona de la muestra lo que lo convierte en el equipo ideal para la formación de imágenes de alta resolución de materiales magnéticos y análisis EBSD

Alta resolución en imagen superficial empleando el modo Gentle Beam
Mediante la aplicación de un voltaje de polarización a la muestra (ES), la velocidad de los electrones incidentes se reduce y la velocidad de los electrones liberados se incrementa. Esto permite obtener las imágenes de alta resolución con una buena relación señal-ruido incluso con energías muy bajas.
Adquisición de toda la información con cuatro detectores
El JSM-7800F incorpora 4 tipos de detectores, incluyendo un detector de electrones superior (UED), detector de electrones secundarios superior (USD), detector de electrones retrodispersados , y un detector de electrones inferior . Para los detectores en columna es posible controlar las señales de electrones secundarios/retrodispersados mediante el filtro de energía.Los detectores en la cámara permiten una imagen con mayor influencia de la topografía teniendo un aspecto de 3 dimensiones, incluyendo la información de rugosidad y de la superficie.

Este microscopio de barrido FEG, con sus extremadamente altas capacidades de obtención de imagen, es un instrumento superior para los campos de la nanotecnología, ciencia de materiales y biología.

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JSM-7800F Prime

Microscopio electrónico de barrido con emisióde campo de ultra-alta resolución.

  • Equipado con un cañón de electrones cónico de alto brillo y una lente objetivo de baja aberración.
  • Este modelo le ofrece la más alta resolución al menor voltaje de todos los SEM del mercado, alcanzando una resolución de 0.7 nm en el rango de 1kV a 15 kV. La mejora de la estabilidad global del modelo JSM-7800F Prime le permite observar 4 señales al mismo tiempo con una gran capacidad analítica, alcanzando los 500nA de corriente de sonda, lo que hace este modelo ideal para los usuarios más exigentes.
  • La super lente híbrida (SHL) recientemente desarrollada se utiliza para conseguir la más alta resolución en SEM. La adopción del tipo cañón de electrones Schottky ofrece análisis estable con una alta corriente de la sonda. La reducción de las aberraciones cromáticas y esféricas mejora la resolución, especialmente a bajas tensiones de aceleración. La lente no introduce campos magnéticos en la zona de la muestra lo que lo convierte en el equipo ideal para la formación de imágenes de alta resolución de materiales magnéticos y análisis EBSD. Este microscopio tiene la opción de trabajar en bajo vacío (LV) permitiendo el trabajo con muestras biológicas o muestras no conductoras sin tratamiento hasta una presión de 300 Pa en la cámara.
  • Alta resolución en imagen superficial empleando el modo Super High Gentle Beam
  • Mediante la aplicación de un voltaje de polarización a la muestra (ES), la velocidad de los electrones incidentes se reduce y la velocidad de los electrones liberados se incrementa. Esto permite obtener las imágenes de alta resolución con una buena relación señal-ruido incluso con energías muy bajas.
  • Adquisición de toda la información con cuatro detectores
  • El JSM-7800F Prime incorpora 4 tipos de detectores, incluyendo un detector de electrones superior (UED), detector de electrones secundarios superior (USD), detector de electrones retrodispersados , y un detector de electrones inferior . Para los detectores en columna es posible controlar las señales de electrones secundarios/retrodispersados mediante el filtro de energía. Los detectores en la cámara permiten una imagen con mayor influencia de la topografía teniendo un aspecto de 3 dimensiones, incluyendo la información de rugosidad y de la superficie.
  • Este microscopio de barrido FEG, con sus extremadamente altas capacidades de obtención de imagen, es un instrumento superior para los campos de la nanotecnología, ciencia de materiales y biología.


 

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